顯微光譜分析又稱微區(qu)光(guang)譜分析，是通過(guo)光(guang)學顯微鏡等輔助光(guang)學設備(bei)，采集(ji)微小區(qu)域的光(guang)信號進(jin)行(xing)樣品(pin)光(guang)譜分析的一(yi)種方法。
　　
　　顯微光譜分析是(shi)(shi)(shi)對比普通(tong)(tong)(tong)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)分(fen)析(xi)而言(yan)。通(tong)(tong)(tong)常普通(tong)(tong)(tong)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)分(fen)析(xi)是(shi)(shi)(shi)指普通(tong)(tong)(tong)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)纖(xian)(xian)(xian)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀通(tong)(tong)(tong)過光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)纖(xian)(xian)(xian)將(jiang)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)信(xin)號(hao)導入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)之中(zhong)。但是(shi)(shi)(shi)由于光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)纖(xian)(xian)(xian)收集(ji)的(de)是(shi)(shi)(shi)發(fa)散光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)(一般光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)纖(xian)(xian)(xian)數值孔徑為0.22)，因此普通(tong)(tong)(tong)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)纖(xian)(xian)(xian)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀僅(jin)能采集(ji)較(jiao)大空(kong)間的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)信(xin)號(hao)。測試(shi)信(xin)號(hao)并不(bu)理想。
　　
　　后來，人們通(tong)過光學(xue)顯(xian)微鏡(jing)配合光纖光譜儀進行樣(yang)(yang)品空間分(fen)辨(bian)(bian)分(fen)析使得(de)樣(yang)(yang)品的(de)(de)(de)空間分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)得(de)到了大(da)大(da)的(de)(de)(de)提高(gao)。為了獲(huo)得(de)更高(gao)的(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)一方(fang)面是要提高(gao)顯(xian)微鏡(jing)的(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)，另(ling)外一方(fang)面是要提高(gao)光纖光譜儀的(de)(de)(de)性能(neng)和兩者之間的(de)(de)(de)配合性能(neng)。
　　
　　目前(qian)市場(chang)上光纖光譜儀種(zhong)類繁多，選(xuan)擇適合的(de)光(guang)(guang)纖光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀至關(guan)重要(yao)。復享光(guang)(guang)纖光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀提供的(de)設備(bei)在市場上一直在顯微光(guang)(guang)譜(pu)(pu)分析領域具有(you)良好的(de)口碑。如果您擁有(you)光(guang)(guang)學顯微鏡，那(nei)么進行(xing)顯微光(guang)(guang)譜(pu)(pu)分析zui簡單(dan)的(de)方(fang)法就是配(pei)備(bei)復享光(guang)(guang)纖光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀的(de)顯微鏡-光(guang)(guang)纖適配(pei)器對譜(pu)(pu)儀和顯微鏡進行(xing)整合同(tong)時(shi)配(pei)合復享光(guang)(guang)纖光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀開(kai)發的(de)定制軟件。然(ran)后，您就能(neng)輕輕松松的(de)用顯微鏡和整合好的(de)光(guang)(guang)纖光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀系統對樣品(pin)進行(xing)信號分析。
　　
　　一般來說，如果您擁有50倍以上的(de)(de)物鏡，在不做光(guang)(guang)(guang)闌修(xiu)飾(shi)的(de)(de)情況下(xia)，能(neng)夠(gou)做到25微(wei)(wei)米見方區域的(de)(de)顯(xian)微(wei)(wei)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)分析。當然，復享還能(neng)夠(gou)為(wei)您提(ti)供更精細的(de)(de)顯(xian)微(wei)(wei)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)分析。通過(guo)復享光(guang)(guang)(guang)纖光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)的(de)(de)技術，顯(xian)微(wei)(wei)系統能(neng)將光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)的(de)(de)空間分辨率提(ti)高至5微(wei)(wei)米見方。
　　
　　普(pu)通光(guang)(guang)譜分析和顯微光(guang)(guang)譜分析已(yi)經具有技術的光(guang)(guang)譜分析對(dui)比表
　　
　　普通光(guang)譜分(fen)(fen)析顯(xian)微光(guang)譜分(fen)(fen)析復享的(de)顯(xian)微光(guang)譜分(fen)(fen)析
　　
　　空間分(fen)辨率能力典型1X1mm2zui小25X25um2zui小5X5um2
　　
　　角分辨能(neng)力無(wu)無(wu)有，詳見(jian)R6產品介紹
　　
　　zui大(da)光(guang)譜波段200-2500nm380-780nm320-1100nm
　　
　　制絨過程:
　　
　　制絨(rong)是將(jiang)電(dian)池(chi)片(pian)表(biao)面(mian)刻蝕或(huo)腐蝕成不規則的粗糙表(biao)面(mian)。由于(yu)入射光在電(dian)池(chi)片(pian)表(biao)面(mian)多次反(fan)射和折(zhe)射、增(zeng)加了(le)光的吸收，提高了(le)電(dian)池(chi)片(pian)的短(duan)路電(dian)流和轉換效率。此時(shi)，可以利用(yong)測量反(fan)射率來(lai)衡量電(dian)池(chi)片(pian)的制絨(rong)效果。一般來(lai)說，在制絨(rong)完成后，電(dian)池(chi)片(pian)的反(fan)射率在35%左右。
　　
　　清(qing)洗(xi)過(guo)程:
　　
　　在制絨(rong)過程(cheng)后，需要(yao)對(dui)電池(chi)片表(biao)面進行一般的化學清(qing)(qing)洗(xi)(xi)。清(qing)(qing)洗(xi)(xi)后還(huan)要(yao)進行脫水處理。此時，可(ke)以利用測量反射率來衡量電池(chi)片清(qing)(qing)洗(xi)(xi)效果(guo)。
　　
　　PECVD過程
　　
　　為了進(jin)一步(bu)減(jian)少表面反(fan)(fan)射(she)，提高電池的(de)(de)轉換(huan)效率，需要沉(chen)(chen)積一層SiN(氮化硅(gui)(gui))減(jian)反(fan)(fan)射(she)膜(mo)(mo)(mo)(mo)。現在(zai)工業生(sheng)產中(zhong)常采用(yong)(yong)PECVD設(she)備制備減(jian)反(fan)(fan)射(she)膜(mo)(mo)(mo)(mo)。PECVD即等離(li)子體增強型(xing)化學氣相沉(chen)(chen)積。它的(de)(de)技(ji)術原理是利用(yong)(yong)低(di)溫(wen)等離(li)子體做能量(liang)源，樣(yang)品置于低(di)氣壓下輝(hui)光放電的(de)(de)陰極上，利用(yong)(yong)輝(hui)光放電使(shi)(shi)樣(yang)品升溫(wen)到預(yu)定的(de)(de)溫(wen)度，然后通(tong)入適量(liang)的(de)(de)反(fan)(fan)應(ying)(ying)氣體SiH4和NH3，氣體經一系列化學反(fan)(fan)應(ying)(ying)和等離(li)子體反(fan)(fan)應(ying)(ying)，在(zai)樣(yang)品表面形(xing)成固態薄(bo)膜(mo)(mo)(mo)(mo)，即氮化硅(gui)(gui)薄(bo)膜(mo)(mo)(mo)(mo)。在(zai)反(fan)(fan)應(ying)(ying)過程(cheng)中(zhong)，可(ke)以使(shi)(shi)用(yong)(yong)高分辨的(de)(de)等離(li)子體監控儀(yi)(yi)進(jin)行等離(li)子體反(fan)(fan)應(ying)(ying)的(de)(de)原位監控。一般(ban)情況下，使(shi)(shi)用(yong)(yong)PECVD方法(fa)沉(chen)(chen)積的(de)(de)薄(bo)膜(mo)(mo)(mo)(mo)厚(hou)度在(zai)70nm左右(you)。完成PECVD鍍膜(mo)(mo)(mo)(mo)后，需要使(shi)(shi)用(yong)(yong)橢偏儀(yi)(yi)和反(fan)(fan)射(she)率儀(yi)(yi)綜合衡(heng)量(liang)電池片的(de)(de)膜(mo)(mo)(mo)(mo)厚(hou)和反(fan)(fan)射(she)率
　　
　　封裝過(guo)程(cheng)
　　
　　在組(zu)(zu)件(jian)(jian)的(de)表(biao)面需要封裝(zhuang)上玻(bo)(bo)璃(li)，起到保護電(dian)池組(zu)(zu)件(jian)(jian)的(de)作用(yong)。現在一般使(shi)(shi)用(yong)增透型的(de)壓花(hua)玻(bo)(bo)璃(li)進行封裝(zhuang)。壓花(hua)玻(bo)(bo)璃(li)的(de)透過率將直接影響電(dian)池組(zu)(zu)件(jian)(jian)的(de)發電(dian)效率。因此，需要使(shi)(shi)用(yong)壓花(hua)玻(bo)(bo)璃(li)透過率儀對封裝(zhuang)的(de)壓花(hua)玻(bo)(bo)璃(li)透過率進行檢測。
　　
　　測試過(guo)程
　　
　　為了(le)(le)衡量電池(chi)組件的發電效(xiao)率，需(xu)要使(shi)用太陽光(guang)(guang)(guang)模(mo)擬器(qi)照(zhao)射(she)進行發電效(xiao)率的測試。太陽光(guang)(guang)(guang)模(mo)擬器(qi)一般(ban)使(shi)用特殊的脈沖氙燈光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)。由(you)于脈沖氙燈光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)具有使(shi)用壽命(ming)，因此(ci)，為了(le)(le)獲取準確的效(xiao)率數據，需(xu)要對太陽光(guang)(guang)(guang)模(mo)擬器(qi)的輻(fu)射(she)情況進行檢(jian)測。