Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用

Dimension Edge原子力顯(xian)微鏡融合了布魯克 Dimension Icon 系列上所應(ying)用的(de)(de)一(yi)些創新(xin)技術(shu)，因而達到了(le)同類產品的(de)(de)zui高水平，為(wei)納米尺度的(de)(de)科學研究提供(gong)了(le)高效(xiao)率、高性價比的(de)(de)強大工(gong)具。Dimension Edge 從里到(dao)外的(de)設計都保證了(le)儀(yi)器(qi)的(de)低(di)漂移和低(di)噪音水平(ping)，將獲得可(ke)發表(biao)的(de)數據的(de)時間從數個(ge)小時縮短到(dao)了(le)幾分鐘，是中端價位原子力顯微(wei)鏡的(de)*。

作為*的(de)閉(bi)環 Dimension 系(xi)列(lie)原子(zi)力顯微鏡(jing)，布魯克擁(yong)有的傳感器設計使 Edge 的閉環掃描的噪音水平達到(dao)了開(kai)環掃描的水平。開(kai)放設計的樣(yang)品臺適用于各(ge)種實驗和不同(tong)尺(chi)寸的樣(yang)品。集(ji)成(cheng)化的樣(yang)品臺既可以進行直觀的移動也具有(you)很強的可編程功能控制。集(ji)成(cheng)可視反饋和預先(xian)配置的參數設定的使初學者也可以簡單(dan)連續地得到(dao)專(zhuan)家級的數據。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用

應用：
應用于(yu)科研(yan)和(he)工業界各(ge)領域，涵蓋(gai)了聚合(he)物材(cai)料表(biao)征，集成光(guang)路測(ce)量(liang)，材(cai)料力(li)學性能表(biao)征，MEMS制造，金屬/合(he)金/金屬蒸鍍(du)的性質研(yan)究，液晶材(cai)料性能表(biao)征，分子(zi)器(qi)(qi)件，生物傳感器(qi)(qi)，分子(zi)自組裝(zhuang)結構，光(guang)盤存儲，薄膜性能表(biao)征等(deng)領域的監測(ce)等(deng)各(ge)類科研(yan)和(he)生產工作。
 
原理：
將一(yi)個對微弱力極敏(min)感的微懸臂一(yi)端固定，另一(yi)端有一(yi)微小的針jian，針jian與(yu)樣品表面輕(qing)輕(qing)接(jie)觸，由于針jianjian端原(yuan)子與樣(yang)品(pin)表面原(yuan)子間存在極(ji)微(wei)弱(ruo)的(de)排斥力，通(tong)過(guo)在掃描時控制(zhi)這種力的(de)恒定，帶(dai)有(you)針jian的(de)微(wei)懸臂將(jiang)對(dui)應于針jian與樣(yang)品(pin)表面原(yuan)子間作用(yong)力的(de)等位(wei)面而在垂直于樣(yang)品(pin)的(de)表面方向起伏運動(dong)。利用(yong)光學(xue)檢測(ce)法或隧道電(dian)流(liu)檢測(ce)法，可測(ce)得(de)微(wei)懸臂對(dui)應于掃描各(ge)點(dian)的位置變化(hua)，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。
原子力顯(xian)微(wei)鏡的工作模式(shi)是(shi)以(yi)針jian與樣品之間的作用力的形(xing)式(shi)來分類的。主要有(you)以(yi)下3種操作模式(shi)：接(jie)觸模式(shi)（contact mode) ，非(fei)接(jie)觸模式(shi)（ non - contact mode) 和敲擊模式(shi)( tapping mode）。
 
特征：
u 低(di)漂移和低(di)噪(zao)音水平(ping)
u 閉(bi)環設計--zhuan li的傳感器(qi)設計使Edge的閉(bi)環掃描(miao)的噪音(yin)水平達到了(le)開環掃描(miao)的水平
u ;開放設(she)計的(de)樣品臺適用于各種(zhong)實驗和不同尺寸的(de)樣品
u 集(ji)成化的樣品臺既(ji)可(ke)以(yi)進行直觀(guan)的移動也具(ju)有很強的可(ke)編(bian)程功能控制
u 集成(cheng)可視反(fan)饋和預先配置的(de)參數(shu)(shu)設定，使初學者也可以簡(jian)單連(lian)續地得到專(zhuan)家級(ji)的(de)數(shu)(shu)據(ju)